Wafer sortieren und analysieren

Teilen

Der Metrology Sorter von Schmid ist eine Wafer-Sortieranlage, die sich laut Unternehmen auch für diamantdrahtgesägte Wafer und Quasimono-Wafer eignet. Eine eigens entwickelte Analysesoftware für Thickness, Total Thickness Variation und Roughness der Wafer biete Herstellern einen Wettbewerbsvorteil gegenüber anderen Sortieranlagen. Die Software erfasst die Messdaten aller fertigen Wafer in einem 3D-Block. Aus den gesammelten Informationen lassen sich dann im Störfall bestimmte Maßnahmen in den vorgelagerten Produktionsstufen ableiten. Die Oberflächenrauigkeitsverteilung auf einem Wafer sowie die Verteilung aller Wafer im gesamten Block werden von der Software ebenfalls grafisch dargestellt.

www.schmid-group.com

Stand: A6.490

Dieser Inhalt ist urheberrechtlich geschützt und darf nicht kopiert werden. Wenn Sie mit uns kooperieren und Inhalte von uns teilweise nutzen wollen, nehmen Sie bitte Kontakt auf: redaktion@pv-magazine.com.

Popular content

Frankreich senkt Einspeisetarife für Photovoltaik-Anlagen bis zu 500 Kilowatt weiter ab
25 Juli 2024 Mit der Anwendung des Notfalldegressionskoeffizienten verzeichnen die Fördersätze in den Segmenten bis 500 Kilowatt im dritten Quartal einen weiteren...