Fraunhofer CSP arbeitet an verbessertem Messsystem für Dünnschichtmodule

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Das Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP arbeitet derzeit an einem verbesserten Messsystem für Dünnschichtmodule. Es werde ein spezielles Prüfverfahren entwickelt, mit dem Beschichtungseigenschaften von großflächigen Glassubstraten bewertet werden könnten, teilten die Wissenschaftler am Montag mit. Die unterschiedlichen Eigenschaften der Schichten wie Gefügestruktur, Rauheit, Lichtdurchlässigkeit oder Homogenität beeinflussten den Wirkungsgrad der Solarmodule erheblich, doch bislang sei es lediglich bei sehr kleinen Prüfkörpern möglich, diese Eigenschaften zu bestimmen.

»Gemeinsam mit industriellen Anwendern entwickeln wir ein neuartiges Messverfahren, mit dem es möglich ist, großflächig und zerstörungsfrei die Schichteigenschaften von bis zu zwei Quadratmeter großen Dünnschichtmodulen zuverlässig zu bewerten“, erklärte Ralph Gottschalg, Leiter des Fraunhofer CSP. „Die Messtechnik wird inline-tauglich sein, lässt sich also in bestehende Herstellungsprozesse integrieren.« Dabei wollten die Hallenser Forscher neben bestehenden Messverfahren auch neue Analysemethoden in die Entwicklung einbeziehen. Das neue Messsystem werde als Prototyp entwickelt werden und könne für den Einsatz in einer bestimmten Produktionsumgebung individualisiert werden, hieß es weiter. Die Forscher erwarten, dass die Hersteller damit eine bessere Prozesskontrolle hätten, was sich positiv auf die Wirkungsgrade der Module auswirke.

Das Forschungsprojekt ist dem Fraunhofer CSP zufolge auf drei Jahre angelegt und wird aus den Mitteln des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE) gefördert. Als assiozierte Partner seien Calyxo, Solibro, f|glass, Wavelabs, ACM Coatings, Point Electronic, Dosatsu und das Ingenieursbüro Rosonsky an dem Projekt beteiligt.