ZSW: Rasterelektronenmikroskop eröffnet neue Perspektiven für Dünnschicht-Photovoltaik
Nach Angaben der Stuttgarter Forscher lässt sich durch die hochauflösenden Analysen die Entwicklung von CIGS-Dünnschichtsolarzellen und Perowskiten vorantreiben. Das Rasterelektronenmikroskop liefert neue Informationen zu Schichtwachstum und Dicke, Morphologie oder chemischer Zusammensetzung der Solarzellen.
