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Rasterelektronenmikroskop

ZSW: Rasterelektronenmikroskop eröffnet neue Perspektiven für Dünnschicht-Photovoltaik

Nach Angaben der Stuttgarter Forscher lässt sich durch die hochauflösenden Analysen die Entwicklung von CIGS-Dünnschichtsolarzellen und Perowskiten vorantreiben. Das Rasterelektronenmikroskop liefert neue Informationen zu Schichtwachstum und Dicke, Morphologie oder chemischer Zusammensetzung der Solarzellen.

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